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案例展示.

TEST挑粒方案
2022-07-06 14:38:20

待操作晶圆TSET21共1片,CELL尺寸为8070um*4000um,共包含29种芯片,其分布如下图:

未标题-3.jpg

一、 芯片来料厚度700um,需减薄至200um进行操作

二、 挑粒时晶圆去边2个单元(即wafer最外2圈CELL去除不挑粒)

三、 挑粒后蓝膜请寄回

QQ图片20220706143451.png